تصویربرداری طیف سنجی جرمی یون ثانویه
-
آموزش پیشرفته
تصویربرداری طیف سنجی جرمی یون ثانویه- SIMS
به منظور آنالیز شیمیایی سطح نانوذرات و جزئیات در مقیاس نانو، در مواد طبیعی و مصنوعی، از تکنیکهای مختلفی استفاده…
بیشتر بخوانید »
به منظور آنالیز شیمیایی سطح نانوذرات و جزئیات در مقیاس نانو، در مواد طبیعی و مصنوعی، از تکنیکهای مختلفی استفاده…
بیشتر بخوانید »